D136-001-007 MOOG

EK-965 GIDDINGS & LEWIS M221L SHEFFIELD MEASURMENT LOT

EK-153 GIDDINGS & LEWIS SHEFFIELD MEASUREMENT LOT OF 2

GIDDINGS & LEWIS OUTPUT 24VDC SOURCE 503-25908-01 R1

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Description

来自PLC系统内部的干扰

 

主要由系统内部元器件及电路间的相互电磁辐射产生,如逻辑电路相互辐射及其对模拟电路的影响,模拟地与逻辑地的相互影响及元器件间的相互不匹配使用等。这都属于PLC制造厂对系统内部进行电磁兼容设计的内容,比较复杂,作为应用部门是无法改变,可不必过多考虑,但要选择具有较多应用实绩或经过考验的系统。

EK-965 GIDDINGS & LEWIS M221L SHEFFIELD MEASURMENT LOT

EK-153 GIDDINGS & LEWIS SHEFFIELD MEASUREMENT LOT OF 2

GIDDINGS & LEWIS OUTPUT 24VDC SOURCE 503-25908-01 R1