Description
SA811F 3BDH000013R1 ABB
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如果移位的位数 (N) 大于数组元素数 * 16, 那么数组 (Q) 用输入位(B1)填满, 且输入位还复制到输出位(B2)中。如果移位位数为 0，那么无移位过程；输入 数组赋值到输出数组，输入位复制到电流。如果移位的位数是 0，那么将不进 行移位，输入数组复制到输出数组中，并且输入位（B1）复制到输出位 （B2）中。被移入位串的位由输入参数 B1 规定。如果的位移位数的长度大于 1，则 移入位串中的每一位均填满相同的值（0 或 1），它可以是：另一功能块的布尔输出。全为1。输入 B1 为系统变量 ALW_ON。全为0。输入B1 为系统变量 ALW_OFF。 SHL 或 SHR 功能块向右流过电流，除非移位的位数为 0。输出 Q 为输入 位串移位后的值。如想让输入串移位,则输入 IN 和输出 Q 应是相同地址。每 次扫描均执行移位操作。输出 B2 为移出的后一位。例如，如果移位 4 位，B2 为所移出的第四位。
循环左移功能块（ROL）用于将位串所有的位向左循环一定数目的位数。循环开始时，所的位数从左端循环移出，再从右端循环移入。 循环右移功能块（ROR）用于将位串所有的位向右循环一定数目的位数。循 环开始时，所的位数从右端循环移出，再从左端循环移入。 ROL 和 ROR 功能均支持 1～256 个字的长度。循环位数必须大于 0，小于字符 串位数。 ROL 和 ROR 功能向右传递电流，除非循环位数大于字符串总长或小于 0。结 果存入输出 Q 中。如果希望输入串循环移位,则输出 Q 和输入 IN 应为相同内 存地址。只要该功能块得电，每次扫描均执行循环功能。
位测试功能块用于测试位串中的某一位是 1 或 0，测试结果存入输出 Q 中。 每次扫描时当测试功能块得电, 输出 Q 状态与测试的位的状态相同。如果 用于测试位数的为寄存器变量而不是常数，那么每次扫描时同一功能块 将可对不同的位进行测试。如果测试位数 BIT 超出范围 (1 < BIT < (16 * length) ), 那么输出 Q 为 OFF。 位测试功能支持长 256 个字的位串。
Move 功能用于以位的形式从某处拷贝数据至另一处。因为数据以位的格式拷 贝，因此目的地的数据类型可以与源地址的数据类型不同。 Move 功能执行时，它将输入参数 IN 的数据 按位拷贝至输出参数 Q 中。如果 数据是从离散内存的一个区域移到另一个，（例如，从％I 移到％T）,无论 MOVE 指令执行是否引起离散内存变量改变状态,该离散变量的跳变信息也将 被刷新。输入数据不会改变，除非源地址和目标地址重叠。
Value to be Moved OK Enable MOVE INT IN Output Q 注意如果 Q 参数的是一位类型数据数组不包含一个字节中的所有位，那 么执行移动功能时与该字节(其不在数组中)相关的跳变信息被清除。 输入参数 IN 可以是一个变量地址也可以是一个常数。 如果输入为一常数，那 么该常数将被拷贝至的输出地址中。
GIDDINGS & LEWIS 502-03814-60R1 USPP 5020381460R1
Giddings & Lewis 32 Axis Digital MMC / PLC
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3′ x 9″ GIDDINGS LEWIS BICKFORD CHIPMASTER Radial Drill
Giddings & Lewis FS161713 Rotary Manifold / Dial Index
GIDDINGS & LEWIS 502-03814-40R1 USPP 5020381440R1
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