Description
ZYGO ZMI2002干涉仪产品详情
概述
ZYGO ZMI2002是一款高性能、高精度干涉仪，用于测量表面形貌。该干涉仪采用先进的光学技术和测量技术，可实现高精度、高分辨率的表面形貌测量。
产品特点
高精度:测量精度高达0.1 nm，可满足苛刻的测量要求。
高分辨率:分辨率高达0.5μm，可测量细微的表面形貌特征。
大测量范围:最大测量范围可达200 mm x 200 mm，可满足不同尺寸样品的测量需求。
非接触测量:采用非接触测量方式，不会损坏样品。
快速测量:测量速度快，可快速完成表面形貌测量。
易于使用:提供友好的用户界面，方便操作和使用。
技术规格
型号：ZMI2002
品牌：ZYGO
类型：干涉仪
测量精度：0.1 nm
分辨率：0.5μm
最大测量范围：200 mm x 200 mm
光源：激光
波长：633 nm
工作温度：0°C至40°C
湿度：20%至80%RH
尺寸：800 mm x 600 mm x 400 mm
重量：200 kg
功能
ZYGO ZMI2002干涉仪可提供以下功能：
表面形貌测量:测量样品的表面高度、粗糙度、坡度等参数。
表面缺陷分析:分析样品的表面缺陷，例如划痕、坑点、裂纹等。
三维表面重建:将测量结果重建成三维表面模型。
表面数据分析:对表面数据进行分析，例如计算表面面积、表面体积等。
应用
ZYGO ZMI2002干涉仪可应用于各种领域，例如：
半导体:用于测量芯片表面形貌、分析芯片缺陷。
光学:用于测量光学元件表面形貌、控制光学元件质量。
机械加工:用于测量机械零件表面形貌、控制零件尺寸精度。
生物医学:用于测量生物材料表面形貌、研究生物材料性能。
材料科学:用于研究材料表面形貌、分析材料性能。
典型应用
在半导体应用中，ZYGO ZMI2002干涉仪可用于测量芯片表面形貌、分析芯片缺陷。该干涉仪可以高精度地测量芯片表面高度、粗糙度等参数，并分析芯片表面缺陷，例如划痕、坑点、裂纹等，帮助芯片制造商提高芯片质量。
在光学应用中，ZYGO ZMI2002干涉仪可用于测量光学元件表面形貌、控制光学元件质量。该干涉仪可以高精度地测量光学元件表面形貌，例如透镜、反射镜等，并控制光学元件表面粗糙度、波形误差等参数，确保光学元件的光学性能。
在机械加工应用中，ZYGO ZMI2002干涉仪可用于测量机械零件表面形貌、控制零件尺寸精度。该干涉仪可以高精度地测量机械零件表面形貌，例如轴承、齿轮等，并控制零件表面粗糙度、尺寸精度等参数，确保零件质量。
在生物医学应用中，ZYGO ZMI2002干涉仪可用于测量生物材料表面形貌、研究生物材料性能。该干涉仪可以高精度地测量生物材料表面形貌，例如植入体、人工关节等，并研究生物材料表面形貌与生物相容性之间的关系。
在材料科学应用中，ZYGO ZMI2002干涉仪可用于研究材料表面形貌、分析材料性能。该干涉仪可以高精度地测量材料表面形貌，例如金属、陶瓷等，并研究材料表面形貌与材料性能之间的关系。山西润盛进出口有限公司
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